一种基于太赫兹谱学成像的釉质龋检测系统
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种基于太赫兹谱学成像的釉质龋检测系统，该检测系统利用太赫兹波较强的穿透性、非电离辐射特性、对龋病组织的敏感性以及龋病组织和健康组织的高对比度响应差异特性，实现了现有技术中难以做到的，对位置隐蔽、难以检测的早期釉质龋进行非电离辐射、准确、精准、直观地检测。
基本信息
专利标题 ：
一种基于太赫兹谱学成像的釉质龋检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114452026A
申请号 ：
CN202210029730.9
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2022-01-12
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴晓君才家华周江平
申请人 ：
深圳北航新兴产业技术研究院;北京航空航天大学
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道高新南九道51号北航大厦1号楼19层
代理机构 ：
北京天汇航智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
黄川
优先权 ：
CN202210029730.9
主分类号 ：
A61C19/04
IPC分类号 ：
A61C19/04 A61B5/0507 A61B5/00
IPC结构图谱
A
A部——人类生活必需
A61
医学或兽医学；卫生学
A61C
牙科；口腔或牙齿卫生的装置或方法
A61C19/00
牙科辅助用具
A61C19/04
专门适用于牙科的测量仪器
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : A61C 19/04
申请日 : 20220112
申请日 : 20220112
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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