一种基于图像特征增强数字体图像相关法的变形测量方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于图像特征增强数字体图像相关法的变形测量方法,首先,构造尺度间空并对其中的每个像素点进行检测、筛选,得到最终可用关键点;计算主方向及二进制描述符进而匹配得到关键点对;使用IC‑GN算法迭代式计算高精度变形结果。本发明基于图像特征增强数字体图像相关法,可以在不破坏试样的情况下进行非接触式测量,更加方便在测量试样内部的三维位移情况,针对图像的旋转、尺度以及亮度变化可以保持不变,从全局进行匹配,有效地进行解决了大而复杂的变形,同时也能应对小变形情况。

基本信息
专利标题 :
一种基于图像特征增强数字体图像相关法的变形测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114526682A
申请号 :
CN202210034810.3
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-01-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
董守斌左乾江蒋震宇汤立群
申请人 :
华南理工大学
申请人地址 :
广东省广州市天河区五山路381号
代理机构 :
广州市华学知识产权代理有限公司
代理人 :
冯炳辉
优先权 :
CN202210034810.3
主分类号 :
G01B11/16
IPC分类号 :
G01B11/16  G06T7/60  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/16
用于计量固体的变形,例如光学应变仪
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/16
申请日 : 20220113
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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