SSD异常掉电测试方法、装置、存储介质及SSD设备
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种SSD异常掉电测试方法、装置、存储介质及SSD设备，该方法包括：建立与测试机的连接关系；当接收到所述测试机发送的掉电功能测试指令时，关闭内部储能电容的放电电路，所述掉电功能测试指令中包括有预设的掉电测试参数；根据所述掉电测试参数控制供电电源的通断，以控制当前设备的上下电，实现异常掉电测试。本发明将SSD设备直连测试机器配合专用指令，即可通过SSD控制器实现自掉电控制，进而无需依赖外部电源控制装置实现高精细度掉电，以实现更高时间精度的掉电测试，更好地满足测试需求。
基本信息
专利标题 ：
SSD异常掉电测试方法、装置、存储介质及SSD设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114496058A
申请号 ：
CN202210052788.5
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-01-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
伏敏敏薛红军孙伟
申请人 ：
北京得瑞领新科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区西小口路66号中关村东升科技园·北领地B-6号楼A座9层A905室
代理机构 ：
北京慧智兴达知识产权代理有限公司
代理人 ：
李丽颖
优先权 ：
CN202210052788.5
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56 G06F11/22
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/56
申请日 : 20220118
申请日 : 20220118
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
