功耗测试方法、装置、设备及存储介质
公开
摘要
本公开提供一种功耗测试方法、装置、设备及存储介质，涉及半导体技术领域。所述测试方法包括：根据待测数据量确定预设时长以及所述预设时长对应的测试数据量，其中，所述测试数据量小于或等于系统的数据处理量；对存储单元执行预设测试操作，并获取所述预设时长内的测试功耗；根据所述测试功耗和所述预设时长，确定所述存储单元的功耗。本公开采用小于或等于系统的数据处理量的测试数据量进行测试，获取其测试功耗，将功耗与系统的数据处理量相结合，实现对存储器的功耗的量化分析，提高测试的准确性以及测试结果的可靠性。
基本信息
专利标题 ：
功耗测试方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114627955A
申请号 ：
CN202210484144.3
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-05-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张曙光
申请人 ：
长鑫存储技术有限公司;长鑫集电（北京）存储技术有限公司
申请人地址 ：
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 ：
北京名华博信知识产权代理有限公司
代理人 ：
李俊红
优先权 ：
CN202210484144.3
主分类号 ：
G11C29/50
IPC分类号 ：
G11C29/50 G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/50
容限测试，例如，竞争、电压或电流测试
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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