密码芯片安全性检测方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种密码芯片安全性检测方法，包括：根据多组明文和多组密钥对目标密码芯片的寄存器传输级实现代码进行仿真，生成寄存器传输级侧信道信息；统计侧信道变量值集合和所述寄存器传输级侧信道信息的相关性，生成寄存器传输级相关性结果；根据所述寄存器传输级相关性结果判断是否对所述寄存器传输级实现代码进行修改迭代。本发明解决了如何提高密码芯片侧信道防护能力的评估效率的技术问题。
基本信息
专利标题 ：
密码芯片安全性检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114328269A
申请号 ：
CN202210053967.0
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2022-01-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
柳建勇陈燕陈魁葛炜
申请人 ：
深圳模微半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市宝安区西乡街道盐田社区银田路4号华丰宝安智谷科技创新园D座509
代理机构 ：
深圳卓正专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
万正平
优先权 ：
CN202210053967.0
主分类号 ：
G06F11/36
IPC分类号 ：
G06F11/36 G06F21/72
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20220118
申请日 : 20220118
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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