一种电磁干扰测试装置和方法
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种电磁干扰测试装置和方法，属于电磁兼容技术领域。装置包括：印刷电路板，天线阵列模块和信号处理模块；印刷电路板表面至少设置有天线阵列模块和信号处理模块；天线阵列模块包括预设格点位置和与预设格点位置的数量对应的天线单元模块，天线单元模块设置于预设格点位置，用于接收电磁干扰信号；信号处理模块与天线阵列模块电性连接，用于处理天线阵列模块接收到的电磁干扰信号，获得机壳外部的电磁干扰源在机壳内部形成的干扰信号的测试数据。通过天线阵列可以直观、简明地测量得到由静电放电造成的电磁干扰在印刷电路板上的干扰信号强度分布。
基本信息
专利标题 ：
一种电磁干扰测试装置和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114487670A
申请号 ：
CN202210071677.9
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-01-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张曼曼
申请人 ：
苏州浪潮智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市吴中经济开发区郭巷街道官浦路1号9幢
代理机构 ：
北京市万慧达律师事务所
代理人 ：
刘艳丽
优先权 ：
CN202210071677.9
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/04 G01R1/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20220121
申请日 : 20220121
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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