一种应用程序的缺陷分析方法、装置、设备及介质
实质审查的生效
摘要

本发明实施例公开了一种应用程序的缺陷分析方法、装置、设备及介质。该方法包括:当平台即服务系统中存在发生缺陷的目标应用程序时,获取平台即服务系统对应的缺陷日志及目标应用程序编号及目标应用程序发生缺陷的时间戳信息;利用目标应用程序编号及目标应用程序发生缺陷的时间戳信息在缺陷日志中进行关键字匹配,得到缺陷日志中目标应用程序的缺陷特征,并将缺陷特征进行组合生成目标应用程序的缺陷特征向量;将目标应用程序的缺陷特征向量输入至预先设定的缺陷分析模型中,输出目标应用程序对应的缺陷解决方案。通过本发明实施例的技术方案,能够实现自动定位应用程序的缺陷并输出对应的缺陷解决方案,减小了工作量,提高了测试效率。

基本信息
专利标题 :
一种应用程序的缺陷分析方法、装置、设备及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114416573A
申请号 :
CN202210073094.X
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-01-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黎玥嵘张雪艳华海博
申请人 :
中国农业银行股份有限公司
申请人地址 :
北京市东城区建国门内大街69号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
郭德霞
优先权 :
CN202210073094.X
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  G06F11/30  G06K9/62  G06N5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20220121
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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