一种软件缺陷预测和质量分析方法、装置、设备及介质
实质审查的生效
摘要

本发明提供了一种软件缺陷预测和质量分析方法、装置、设备及介质,方法包括:获取不同领域的软件项目历史数据,并根据软件项目历史数据获取不同粒度的项目模块缺陷信息;根据项目模块缺陷信息建立知识图谱;根据知识图谱构建多任务训练模型,并对多任务训练模型进行训练和学习,得到软件质量分析指标的预测结果。采用本发明实施例,能够基于不同领域的软件历史数据,充分利用历史数据的关联性进行关联分析,来获得缺陷预测信息,并基于构建的知识图谱和训练模型,依据缺陷特征建立多个质量分析指标体系,通过预测指标的权重分析,保证质量指标有效性,从而能够直接了解新项目的缺陷预测和产品质量,进一步提高项目管理的工作效率。

基本信息
专利标题 :
一种软件缺陷预测和质量分析方法、装置、设备及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114328277A
申请号 :
CN202210234709.2
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2022-03-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
潘宇聪许颖媚匡碧琴李伟洪姚祖发马志平李军张子良
申请人 :
广东省科技基础条件平台中心
申请人地址 :
广东省广州市越秀区连新路171号自编3号楼
代理机构 :
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 :
吕金金
优先权 :
CN202210234709.2
主分类号 :
G06F11/36
IPC分类号 :
G06F11/36  G06F16/35  G06F16/36  G06N3/04  G06N3/08  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20220311
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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