一种玻璃配合料均匀度的测定方法
公开
摘要
本发明公开了一种玻璃配合料均匀度的测定方法,涉及玻璃制作技术领域,解决了玻璃配合料均匀度测定技术问题;利用粉末压片法制备标准样品和待测样品,用X荧光光谱仪扫描标准样品,得到标准样品各种组分的实测强度,再利用基本参数FP法,建立灵敏度系数标准曲线;根据建立的标准曲线用X射线荧光光谱仪检测待测样品的各主要成分的含量,通过计算平均相对标准偏差,最终得到玻璃配合料的均匀度;本发明的测定方法以多个组分进行衡量玻璃配合料均匀度,操作简便、快捷,避免了现有配合料均匀度X荧光测定方法的高温熔样制片环节,也避免了像滴定法或电导率法只能衡量溶于水的特定成分的均匀度的以偏概全的弊端。
基本信息
专利标题 :
一种玻璃配合料均匀度的测定方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114609169A
申请号 :
CN202210073792.X
公开(公告)日 :
2022-06-10
申请日 :
2022-01-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
舒众众张晓东陈习旬宋长刚
申请人 :
蚌埠中光电科技有限公司
申请人地址 :
安徽省蚌埠市石屋路199号
代理机构 :
合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李浩宇
优先权 :
CN202210073792.X
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223 G01N23/2202
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-06-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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