适用于超大阵面指向变化的测量系统及方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供了一种适用于超大阵面指向变化的测量系统，包括：多束点激光发射器、二维PSD传感器组件、测量控制单元和超大阵面；其中，多束点激光发射器与测量控制单元连接，二维PSD传感器组件与测量控制单元连接；多束点激光发射器输出的光束照射至二维PSD传感器组件；二维PSD传感器组件布置于所述超大阵面上；超大阵面2K x 2K以上阵列。本发明还提供了一种适用于超大阵面指向变化的测量方法。本发明基于多束点激光发射器，能够获取超大阵面在轨绝对平面度和法线指向实现对超大阵面的指向变化测量。
基本信息
专利标题 ：
适用于超大阵面指向变化的测量系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114543668A
申请号 ：
CN202210080159.3
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-01-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
杨勇孙延博张如变杜宣赵发刚孔祥森任友良袁伟薛久明方厚招周丽平
申请人 ：
上海卫星工程研究所
申请人地址 ：
上海市闵行区元江路3666号
代理机构 ：
上海段和段律师事务所
代理人 ：
李佳俊
优先权 ：
CN202210080159.3
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00 G01B11/30 G01B11/16
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20220124
申请日 : 20220124
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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