本发明提供了一种产品外观缺陷检测的最优分块方法、检测方法及系统，涉及电子制造的技术领域，最优分块方法首先利用基于分块的缺陷检测算法根据设置的分块参数对产品外观图片分别进行块级缺陷检测，将检测结果与外观缺陷真实类别进行对比，确定检测结果的分类属性及其数量；基于分类属性的数量计算块级误检率、像素级误检率、误检率参数、误检平衡参数和误检放大参数；最后，综合误检率参数、误检平衡参数和误检放大参数构建评估函数，计算最终评估结果，全面、准确的对基于分块的缺陷检测算法的检测结果进行评估，将最终评估结果达到最大时对应的分块参数作为最优分块参数，对待检测的产品进行缺陷检测，实现对缺陷检测算法的性能优化。