一种去耦电容优化选择方法、系统
公开
摘要
本发明提出一种去耦电容优化选择方法、系统，无需每次根据仿真结果进行调整，而是根据优化选择策略，直接定量选择所有的去耦电容，在选取的过程中直接达到优化目标，无需选取后再进行优化，整体计算量较小，且易于量化；结合PDN阻抗曲线的频域特性，通过分析计算，定量选择相应的去耦电容，通过对电路板的谐振特性进行仿真分析，确定去耦电容参数及电容在PCB板上的布局规则和位置分布，利用较少的电容数量达到理想的去耦效果。本发明优化选择方法可以根据PDN阻抗特性，定量的选择去耦电容，将去耦电容的数量控制在最小范围内，去耦效果达到理想的状态，同时，优化板上布局、减小分布参数对PDN性能的影响，节约电路板空间和工程成本。
基本信息
专利标题 ：
一种去耦电容优化选择方法、系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114564909A
申请号 ：
CN202210084293.0
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-01-20
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张子钰叶峰陈代英柴忠勇
申请人 ：
北京全路通信信号研究设计院集团有限公司
申请人地址 ：
北京市丰台区丰台科技园汽车博物馆南路1号院B座7层
代理机构 ：
北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张迎新
优先权 ：
CN202210084293.0
主分类号 ：
G06F30/392
IPC分类号 ：
G06F30/392 G06F30/398 G06F115/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/392
平面规划或布局，例如,分区或放置
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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