一种基于半导体量子点的单光子源系统
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种基于半导体量子点的单光子源系统,包括:氦氖激光器,用于发出泵浦光,并经窄线滤光片的滤光与光纤准直器的聚焦后进入单模光纤耦合输出;Y型熔融光纤波分复用器,用于将泵浦光导入半导体量子点样品激发产生单量子荧光信号;光纤准直器,用于将光信号转换为平行荧光;滤光片组,用于将平行荧光中非单光子信号滤除,得到窄谱线单光子信号;光栅光谱仪,用于对经过光纤准直器聚焦后的单光子信号进行探测和分析。本发明不仅能够得到窄谱线、高纯度的单光子信号,同时能利用较少器件和简单光路实现单光子源系统的制备,从而能有效缓解单光子源系统光路复杂、成本高、体积大的难题。

基本信息
专利标题 :
一种基于半导体量子点的单光子源系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114486833A
申请号 :
CN202210093240.5
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-26
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
刘冬梅顾婷婷陈乐乐李超臧庆周健
申请人 :
合肥工业大学;中国科学院合肥物质科学研究院
申请人地址 :
安徽省合肥市包河区屯溪路193号
代理机构 :
安徽省合肥新安专利代理有限责任公司
代理人 :
陆丽莉
优先权 :
CN202210093240.5
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  G02B7/00  G02B6/38  G02B6/293  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/64
申请日 : 20220126
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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