一种晶振振荡检测电路
公开
摘要
本申请提供了一种晶振振荡检测电路，该晶振振荡检测电路包括用于检测高频晶振由起振至平稳的第一检测电路和第二检测电路；第一检测电路在第一时间内利用RC时钟对高频晶振的振动频次多次检测，在第一时间之内的任意时段的两次振动频次相差最小数值时，第一检测电路停止检测；振动频次处于平稳状态的高频晶振进行分频；第二检测电路在第二时间内利用RC时钟对的高频晶振的分频振动频次多次检测，在第二时间之内的任意时段的两次分频振动频次相差最小数值时，第二检测电路停止检测。以上描述中可以看出，利用RC时钟精确计算高频晶振由起振至完全稳定的时间点，不需要再反复试验得出起振时间，最大程度规避资源浪费，降低芯片死机概率。
基本信息
专利标题 ：
一种晶振振荡检测电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578153A
申请号 ：
CN202210094632.3
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-01-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
王肖蔡杰
申请人 ：
奉加微电子（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市奉贤区岚丰路1150号1幢6043室
代理机构 ：
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
成丽杰
优先权 ：
CN202210094632.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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