一种融合AP聚类与宽度学习系统的硬盘故障预测方法
授权
摘要

本发明公开一种融合AP聚类与宽度学习系统的硬盘故障预测方法。所述方法包括以下步骤:过滤出单一型号的硬盘的全部样本并进行处理,将该型号的所有硬盘分为故障盘和健康盘;采用基于AP聚类算法的样本标记方法,重新标记故障盘中的一部分健康样本为伪故障样本;随机挑选一部分健康盘,获取部分健康样本;划分训练集、测试集;构建故障预测模型,使用训练集训练故障预测模型,使用测试集评估故障预测模型的好坏;当该单一型号硬盘新采集的数据到来时,使用训练好的故障预测模型,预测这些硬盘在未来一段时间内是否会出现故障,得到预测结果。本发明通过增量学习过程快速迭代更新网络结构,解决模型老化问题。

基本信息
专利标题 :
一种融合AP聚类与宽度学习系统的硬盘故障预测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114116292A
申请号 :
CN202210096818.2
公开(公告)日 :
2022-03-01
申请日 :
2022-01-27
授权号 :
CN114116292B
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
刘发贵彭玲霞
申请人 :
华南理工大学
申请人地址 :
广东省广州市天河区五山路381号
代理机构 :
广州粤高专利商标代理有限公司
代理人 :
江裕强
优先权 :
CN202210096818.2
主分类号 :
G06F11/07
IPC分类号 :
G06F11/07  G06K9/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/07
响应错误的产生,例如,容错
法律状态
2022-05-24 :
授权
2022-03-18 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/07
申请日 : 20220127
2022-03-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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