一种气溶胶光学厚度反演方法
授权
摘要

本申请提供了一种气溶胶光学厚度反演方法,涉及遥感图像处理技术领域,包括:对获取的静止卫星的遥感影像进行预处理,去除云像元、水像元以及冰雪像元,得到影像AOD反演区域;针对反演区域的各暗像元,通过对短波红外波段、红光波段和蓝光波段进行地气解耦,得到暗像元的红光地表反射率和蓝光地表反射率;读取可见红光波段查找表和蓝光波段查找表,通过求解暗像元的第一代价函数最小值,获取暗像元的最优气溶胶光学厚度;针对反演区域的各亮像元,基于地表反射率库计算亮像元的蓝光地表反射率;读取蓝光波段查找表,通过求解亮像元的第二代价函数最小值,获取亮像元的最优气溶胶光学厚度。从而能够提高静止卫星遥感影像的气溶胶光学厚度反演精度。

基本信息
专利标题 :
一种气溶胶光学厚度反演方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114113001A
申请号 :
CN202210097040.7
公开(公告)日 :
2022-03-01
申请日 :
2022-01-27
授权号 :
CN114113001B
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
黄葵王宇翔吴月陈强白琳
申请人 :
航天宏图信息技术股份有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区西杉创意园四区5号楼3层301室
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张萍
优先权 :
CN202210097040.7
主分类号 :
G01N21/55
IPC分类号 :
G01N21/55  G01B11/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/55
镜面反射率
法律状态
2022-05-17 :
授权
2022-03-18 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/55
申请日 : 20220127
2022-03-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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