透明物件厚度的光学测量方法
视为撤回的专利申请
摘要
利用诸如激光束的平行光束对透明容器的壁厚进行快速而准确的测量的方法和装置。激光二极管和相关的光学装置，沿着与容器外壁相交的路线，把平行光射到测量点上。把诸如菲涅耳透镜的透镜系统放在外测量点和光敏元件阵列之间的反射光线路径中，直线型光敏元件阵列的长轴是水平测量面与象平面的交线。由该直线型光敏元件阵列测得的反射光线与折射光线的间距基本上正比于容器的壁厚。
基本信息
专利标题 ：
透明物件厚度的光学测量方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1033479A
申请号 ：
CN88108567.7
公开（公告）日 ：
1989-06-21
申请日 ：
1988-12-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
理德·威廉斯保罗·弗雷德里克·史各特
申请人 ：
恩哈特工业公司
申请人地址 ：
美国康涅狄格州
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
何耀煌
优先权 ：
CN88108567.7
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
1991-10-02 ：
视为撤回的专利申请
1989-06-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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