一种非接触式光学透镜中心厚度测量方法及测量装置
公开
摘要

本发明提供一种非接触式光学透镜中心厚度测量方法及测量装置,该测量装置包括间隔测量模块和测量工装模块,间隔测量模块包括一迈克尔逊干涉仪,用于测量间隔距离;测量工装模块包括第一平行平板、待测透镜夹持及调整装置以及第二平行平板,其中,待测透镜夹持及调整装置设置于第一平行平板和第二平行平板之间,用于夹持待测透镜并调整待测透镜的位置,使得待测透镜的光轴与测量光束同轴。采用该装置在进行厚度测量时,不需要已知待测光学透镜的折射率,直接进行光学透镜中心厚度的测量,不再受限于材料因素的影响,可以对任何光学透镜进行中心厚度测量并且提高了测量的精度。

基本信息
专利标题 :
一种非接触式光学透镜中心厚度测量方法及测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114577125A
申请号 :
CN202210369397.6
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-04-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
廖家胜
申请人 :
上海树突精密仪器有限公司
申请人地址 :
上海市静安区江场三路238号1601-195室
代理机构 :
南京华讯知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
刘小吉
优先权 :
CN202210369397.6
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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