一种光学镜面中心厚度测量装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种光学镜面中心厚度测量装置,包括基台,所述基台的顶部外壁呈矩阵式分布有固定孔,且基台的顶部外壁通过固定孔卡接有中心台,所述基台的一侧外壁设有滑杆,且滑杆的外壁滑动连接有滑动台,所述滑动台的一侧外壁通过螺栓固定有L型固定板,所述L型固定板的顶部外壁开有调节槽,且L型固定板通过调节槽固定有固定螺套。本实用新型为非接触式结构,通过光源组件中激光及其检测探头,检测其通过镜面后的光源信号,利用光电信号设备和光学干涉法计算,可快速准确测量出镜面测量点厚度,利用调节槽和硅胶托盘配合伸缩筒调节,使光源对准插塞位置,镜面固定在硅胶托盘上,不易损伤镜面,适用于镜面中心厚度连续测量工作。
基本信息
专利标题 :
一种光学镜面中心厚度测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020261042.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-03-05
授权号 :
CN211668444U
授权日 :
2020-10-13
发明人 :
陈光宇
申请人 :
高光光学(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市坪山区坪山街道六联社区昌业路9号新宙邦科技大厦1203
代理机构 :
深圳市鼎智专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李滔
优先权 :
CN202020261042.1
主分类号 :
G01B11/06
IPC分类号 :
G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2020-10-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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