非接触式透镜中心厚度测量装置
授权
摘要
本实用新型提供一种非接触式透镜中心厚度测量装置，包括承载标准小球的第一调整平台、承载上光学平板的第二调整平台、承载待测透镜的第三调整平台、承载下光学平板的第四调整平台、镜面定位仪及镜片定心仪，所述第一调整平台、第二调整平台、第三调整平台及第四调整平台均包括偏心调整机构和倾斜调整机构，且通过一机械支撑工装自上而下连接；镜面定位仪的定位仪测量头和镜片定心仪的定心仪测量头设置于第一调整平台的上方且可以互相切换。本实用新型借助镜片定心仪和镜面定位仪，在无需知道待测透镜的折射率的情况下就可以对待测透镜的中心厚度进行非接触、高精度的快速测量，可用于平面、球面及非球面光学元件中心厚度的测量。
基本信息
专利标题 ：
非接触式透镜中心厚度测量装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921853153.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-10-30
授权号 ：
CN210773918U
授权日 ：
2020-06-16
发明人 ：
孙慧慧
申请人 ：
上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区张东路1525号
代理机构 ：
上海思捷知识产权代理有限公司
代理人 ：
王宏婧
优先权 ：
CN201921853153.5
主分类号 ：
G01B11/06
IPC分类号 ：
G01B11/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B11/06
用于计量厚度
法律状态
2020-06-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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