一种用于金属构件涡流缺陷检测的聚焦半圆形探头及其使用方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种用于金属构件涡流缺陷检测的聚焦半圆形探头。所述用于金属构件涡流缺陷检测的聚焦半圆形探头由半圆形磁芯、激励线圈和两个接收线圈构成,所述半圆形磁芯的两只磁脚向下,所述激励线圈均匀绕制在所述半圆形磁芯外面,两只所述接收线圈放置在所述半圆形磁芯的两只磁脚中心连线的正下方,所述接收线圈的上表面与所述半圆形磁芯的两只磁脚的下表面紧贴,且所述接收线圈的距离可以调节。本发明提供的用于金属构件涡流缺陷检测的聚焦半圆形探头实现了在较大提离高度下均可对被检试件局部缺陷及厚度进行有效检测,较传统涡流检测探头拥有更高的检测灵敏度,在带包覆层管道的金属构件局部腐蚀和壁厚检测中有较大的应用价值。

基本信息
专利标题 :
一种用于金属构件涡流缺陷检测的聚焦半圆形探头及其使用方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509499A
申请号 :
CN202210100344.4
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-01-27
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
付跃文李朝阳杨帆黄文丰
申请人 :
南昌航空大学
申请人地址 :
江西省南昌市丰和南大道696号
代理机构 :
南昌市平凡知识产权代理事务所
代理人 :
张文杰
优先权 :
CN202210100344.4
主分类号 :
G01N27/90
IPC分类号 :
G01N27/90  G01B7/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/90
利用涡流
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 27/90
申请日 : 20220127
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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