一种芯片固件定位分析方法、系统、装置和电子设备
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种芯片固件定位分析方法、系统、装置和电子设备,涉及芯片技术领域。方法包括:遍历所有输入接口,多次分别确定每个输入接口为处于正常工作状态下的目标待测输入接口时对应的待测芯片固件的磁场图像数据;基于多个磁场图像数据,确定待测芯片中同一位置不同导线的深度分布数据;基于待测芯片中同一位置不同导线的深度分布数据,确定待测芯片固件的配置信息流的流动方向;基于金刚石氮空位色心传感器对待测芯片进行扫描,基于分析配置信息流的流动方向完成对待测芯片固件的定位分析,可以在不损坏待测芯片的情况下实现对待测芯片内寄存器的定位,提高了固件定位分析的准确性和可靠性。
基本信息
专利标题 :
一种芯片固件定位分析方法、系统、装置和电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487509A
申请号 :
CN202210125483.2
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-02-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
马子仪赵发展
申请人 :
中国科学院微电子研究所
申请人地址 :
北京市朝阳区北土城西路3号
代理机构 :
北京知迪知识产权代理有限公司
代理人 :
王胜利
优先权 :
CN202210125483.2
主分类号 :
G01R1/04
IPC分类号 :
G01R1/04 G01R31/28 G06T7/70 G06T7/50
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/04
外壳;支承构件;端子装置
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 1/04
申请日 : 20220210
申请日 : 20220210
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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