非接触角测量设备和方法
实质审查的生效
摘要

本发明涉及非接触角测量设备和方法。一种非接触角测量设备包括物质波和能量(MWE)粒子源和检测器。MWE粒子源用于生成玻色子或费米子粒子。检测器用于检测由1)与第一平面的缝、凸块或孔对应的玻色子或费米子粒子和2)与被第二平面反射的玻色子或费米子粒子相关联的物质波的波前分割生成的干涉图案的多个峰或谷,其中,所述干涉图案的所述多个峰或谷的角位置、所述第一平面与所述第二平面的接合区域之间的第一距离、以及所述检测器和所述缝、凸块或孔之间的第二距离用于决定所述第一平面和所述第二平面之间的角度。

基本信息
专利标题 :
非接触角测量设备和方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509003A
申请号 :
CN202210128016.5
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2017-03-31
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
甘万达甘芳齐
申请人 :
甘万达;甘芳齐
申请人地址 :
中国台湾新竹市
代理机构 :
北京三友知识产权代理有限公司
代理人 :
王万影
优先权 :
CN202210128016.5
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B9/02  G01N23/20  G01B11/26  H01J37/26  H01J37/04  H01J37/244  A61B6/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20170331
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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