一种测量架、测量设备及测量架的使用方法
实质审查的生效
摘要

本申请提供了一种测量架、测量设备及测量架的使用方法,属于建筑施工技术领域。其中,测量架包括支架、基准球、激光发射模块和微调机构。基准球的内部开设有第一中心通道,第一中心通道沿竖直方向延伸。激光发射模块安装于第一中心通道内,激光发射模块用于沿竖直方向向下发射激光参考线。微调机构连接于支架和基准球,微调机构用于微调基准球的位置,以使激光参考线与地面标记线重合,以校准基准球的安装位置。采用这种结构的测量架能够提高基准球在施工现场的安装精度,以减小基准球的安装位置误差,从而有利于减小3D扫描仪在基于基准球建立的整体点云图像的误差,进而能够有效提升对铝膜板的测量精度和准确度,以保证混凝土墙体的施工质量。

基本信息
专利标题 :
一种测量架、测量设备及测量架的使用方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114322764A
申请号 :
CN202111601217.4
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2021-12-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
花伟陈刚袁青
申请人 :
广东博智林机器人有限公司
申请人地址 :
广东省佛山市顺德区北滘镇碧桂园社区泮浦路1号A1栋2楼A2-05(仅作办公用途)(住所申报)
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
王丽莎
优先权 :
CN202111601217.4
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00  G01B11/24  G01B5/00  G01C15/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20211224
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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