使用磁阻传感器测量磁场的方法和设备

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摘要

用于使用磁阻传感器来测量磁场的设备，包括至少一个磁阻传感器(5)，用于测量该磁阻传感器(5)的电阻的模块(50)，用于在包含该磁阻传感器(5)的空间中生成附加磁场的生成器模块(40，6)，以及控制单元(60)，控制单元首先用于选择性地控制该生成器模块(40，6)来实施附加磁场脉冲，附加磁场脉冲具有正或负的以及可充分使该传感器(5)饱和的强度的第一极性的第一值，并且控制单元其次通过测量电阻的模块(50)选择性地控制对该磁阻传感器(5)电阻的测量。

基本信息

专利标题：

使用磁阻传感器测量磁场的方法和设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN101044412A

申请号：

CN200580035519.2

公开（公告）日：

2007-09-26

申请日：

2005-10-17

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

N·比齐埃C·费尔蒙M·帕内捷

申请人：

原子能源局

申请人地址：

法国巴黎

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司

代理人：

程伟

优先权：

CN200580035519.2

主分类号：

G01R33/09

IPC分类号：

G01R33/09