振镜标定系统及方法
实质审查的生效
摘要
本发明涉及光学共聚焦技术领域，公开了一种振镜标定系统及方法，该系统包括：第一振镜结构、第二振镜结构、第一通光孔、第二通光孔、工艺孔、经纬仪1、经纬仪2、光学平晶，第一通光孔和第二通光孔分别作为经纬仪1和经纬仪2的入光口和出光口，光学平晶紧贴第一振镜结构、第二振镜结构或工艺孔，光学平晶，用于将经纬仪1和经纬仪2出射的激光光束反射至出射点，以对经纬仪1和经纬仪2进行标定，经纬仪1和经纬仪2，用于对第一振镜结构和第二振镜结构进行标定。本发明采用经纬仪进行振镜标定，系统结构简单，结合光学平晶等器件，标定精度高且效率高。
基本信息
专利标题 ：
振镜标定系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114459597A
申请号 ：
CN202210131776.1
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2022-02-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘国强陈力强李晓康
申请人 ：
熵智科技（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区华强北街道福强社区振华路中电迪富大厦7层703
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210131776.1
主分类号 ：
G01H17/00
IPC分类号 ：
G01H17/00 G01M13/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01H
机械振动或超声波、声波或次声波的测量
G01H17/00
不包含在本小类其他组中的机械振动或超声波、声波或次声波的测量
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01H 17/00
申请日 : 20220214
申请日 : 20220214
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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