一种起落架形位公差检测平台
实质审查的生效
摘要
本发明公开一种起落架形位公差检测平台,其包括:支撑组件包括支撑起落架的第一支撑件和第二支撑件;扫描组件包括扫描件和扫描驱动件,扫描驱动件传动连接扫描件,以驱动扫描件相对第一支撑件移动,扫描件具有一检测第一支撑件的探测端;接触组件包括接触头、接触驱动件和距离传感器,接触驱动件传动连接接触头,以驱动接触头相对第二支撑件移动,接触头具有抵压起落架的接触端,距离传感器探测接触端的空间位置。数据处理器,其分别与扫描件和距离传感器电连接,用于接收扫描件扫描的图像以及距离传感器采集的空间位置信息,以得到起落架的尺寸参数。通过视觉测量起落架的部分尺寸参数,利用接触组件进行补充测量,高效快速的测量起落架的尺寸参数。
基本信息
专利标题 :
一种起落架形位公差检测平台
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114543672A
申请号 :
CN202210133911.6
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-14
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
夏军勇高睿杰范谋堂蔡佑元金邦振叶晓铁王升伟谭景林叶育萌钟飞吴庆华赵子丹
申请人 :
湖北工业大学;凌云科技集团有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区南李路28号
代理机构 :
武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李平丽
优先权 :
CN202210133911.6
主分类号 :
G01B11/00
IPC分类号 :
G01B11/00 G01B21/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/00
申请日 : 20220214
申请日 : 20220214
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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