一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法
实质审查的生效
摘要
一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法，该方法包括在启动测试前，按照Pin文件的语法格式，连接N块待测芯片(SITE1、SITE2…SITEi…SITEN)和管脚Pin的硬件资源，并将连接关系写入Pin文件；按照Level文件的语法格式，将客户的测试需求和指标写入Level文件，并将Pin文件和Level文件发送到下位机；在测试启动后，第一解析模块在解析Pin文件后将其动态加载到测试程序，第二解析模块在解析Level文件后将其动态加载到测试程序，并通过测试程序控制机台来执行测试。因此，本发明使测试程序无需重新编译链接即可对更改后的测试条件生效，且用户在阅读和编写测试条件时易于理解，提高了整体的测试速度和效率。
基本信息
专利标题 ：
一种基于动态配置参数的ATE测试装置及其测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114527370A
申请号 ：
CN202210138325.0
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2022-02-15
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李顺东
申请人 ：
上海御渡半导体科技有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区泥城镇新元南路600号1幢1夹层
代理机构 ：
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
陶金龙
优先权 ：
CN202210138325.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220215
申请日 : 20220215
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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