基于半导体自动化测试机的可配置测试设备和测试方法
实质审查的生效
摘要
一种基于半导体自动化测试机的可配置测试设备和测试方法,该测试设备包括上位机、下位机和装备测试板;下位机包括多块测试单板、与每一个多个相应的测试单板配置文件以及用于配置和执行默认的装备测试项装备测试文件;在启动单板装备测试前下位机根据客户输入,确定装备测试文件和配置文件的执行顺序,在启动单板装备测试后,执行装备测试文件、配置文件中的一种或多种以及特定的X种装备测试项中的一种或多种,并将测试结果发送到所述上位机。因此,本发明根据配置文件,输出测试人员预期的测试内容和测试数据,其有效地遍历了测试项目,并大大简化了测试机的装备测试。
基本信息
专利标题 :
基于半导体自动化测试机的可配置测试设备和测试方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487773A
申请号 :
CN202210020106.2
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-10
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李国站
申请人 :
上海御渡半导体科技有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区泥城镇新元南路600号1幢1夹层
代理机构 :
上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
徐琳
优先权 :
CN202210020106.2
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220110
申请日 : 20220110
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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