面向液晶空间光调制器的栅式双像元相位解调方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种面向液晶空间光调制器的栅式双像元相位解调方法,包括步骤:S1:栅式双像元相位调制步骤,通过液晶空间光调制器来实现波前相位在垂直方向上的栅式相位调制和水平方向上的双像元波前相位调制;S2:相位插值复原步骤,利用采样灰度信息的噪声滤除、平滑处理和样条插值拟合实现光强图像的全域和准确复原;S3:梯度投影相位解调步骤,利用梯度投影算法去除干涉图像背景光强,并通过反正切运算实现相位提取,实现待测元件波前相位信息重构。本发明的一种面向液晶空间光调制器的栅式双像元相位解调方法,可实现液晶空间光调制器相位调制误差的有效控制,获取准确的相位分布信息,可基于液晶空间光调制器实现准确的空间相位提取。

基本信息
专利标题 :
面向液晶空间光调制器的栅式双像元相位解调方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114526691A
申请号 :
CN202210166242.2
公开(公告)日 :
2022-05-24
申请日 :
2022-02-21
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李志松陈宇胡红磊徐潇胡晓莉桂夷斐崔佳雯
申请人 :
上海电机学院
申请人地址 :
上海市闵行区江川路690号
代理机构 :
上海伯瑞杰知识产权代理有限公司
代理人 :
李庆
优先权 :
CN202210166242.2
主分类号 :
G01B11/25
IPC分类号 :
G01B11/25  G01B9/02055  G01B9/02097  G01J9/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
G01B11/25
通过在物体上投影一个图形,例如莫尔条纹
法律状态
2022-06-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/25
申请日 : 20220221
2022-05-24 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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