一种自动评价Demura效果的方法和装置
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种自动评价Demura效果的方法和装置,可以准确的获取不同灰阶下显示屏经过Demura处理后每个像素的亮度信息,并依据此亮度信息精确的发现亮度不均匀点所在位置以及亮度不均匀点分布的密集度,从而实现自动客观的评价Demura的效果,使得Demura效果的等级划分具有数据依据,更加规范,其主要包含以下几个部分:获得去噪后的亮度数据、计算平均亮度和亮度差异系数、识别亮度不均匀点、计算亮度不均匀点的数量以及分布的疏密程度、进行该灰阶Demura等级判定、进行整体Demura等级判定。

基本信息
专利标题 :
一种自动评价Demura效果的方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114417246A
申请号 :
CN202210168590.3
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-02-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
秦良张娇吴樟福
申请人 :
昇显微电子(苏州)有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市高新区竹园路209号4号楼1905室
代理机构 :
苏州久元知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
袁欣琪
优先权 :
CN202210168590.3
主分类号 :
G06F17/15
IPC分类号 :
G06F17/15  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F17/00
特别适用于特定功能的数字计算设备或数据处理设备或数据处理方法
G06F17/10
复杂数学运算的
G06F17/15
相关函数计算的
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 17/15
申请日 : 20220228
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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