下颌提拉效果评价方法、存储介质及设备
实质审查的生效
摘要

本申请涉及一种下颌提拉效果评价方法、存储介质及设备。所述方法包括:针对人脸图像使用预训练模型预测人脸位置,得到各人脸特征点的坐标;根据鼻尖坐标,裁剪标准尺寸图像;采用相机姿态估计法对头部姿态进行估计;计算下颌特征点的坐标,根据下颌特征点的坐标得到下颌曲线;根据人脸特征点中左眼左角、右眼右角、鼻尖、左嘴角和右嘴角特征点的坐标,判断下颌提拉前、后的脸部姿态是否吻合;分别对下颌提拉前、后下颌曲线的曲线拟合度、曲线绝对面积、曲线线段距离、下颌曲线长度、下巴与鼻尖距离进行计算对比,从这五个角度对下颌提拉效果进行综合评价,从而实现对下颌提拉效果进行精准地评价。

基本信息
专利标题 :
下颌提拉效果评价方法、存储介质及设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114429159A
申请号 :
CN202210153777.6
公开(公告)日 :
2022-05-03
申请日 :
2022-02-19
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
金刚蒋艳雯杨管晟徐重谋
申请人 :
上海复硕正态质量技术服务有限公司
申请人地址 :
上海市静安区灵石路697号15幢220室
代理机构 :
北京维正专利代理有限公司
代理人 :
刘美莲
优先权 :
CN202210153777.6
主分类号 :
G06K9/00
IPC分类号 :
G06K9/00  G06K9/62  G06T7/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06K
数据识别;数据表示;记录载体;记录载体的处理
G06K9/00
用于阅读或识别印刷或书写字符或者用于识别图形,例如,指纹的方法或装置
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06K 9/00
申请日 : 20220219
2022-05-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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