缺陷特征阈值取得装置、应用其的影像检测系统及方法
实质审查的生效
摘要
缺陷特征阈值取得装置包括分群器及缺陷特征阈值取得器。分群器用以判断数个缺陷特征值是否可区分成第一群组及第二群组。缺陷特征阈值取得器用以：当此些缺陷特征值可区分成第一群组及第二群组，合成第一群组的此些缺陷特征值与第二群组的此些缺陷特征值为合成特征曲线；及，取得合成特征曲线的一缺陷特征阈值。
基本信息
专利标题 ：
缺陷特征阈值取得装置、应用其的影像检测系统及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114527134A
申请号 ：
CN202210171792.3
公开（公告）日 ：
2022-05-24
申请日 ：
2022-02-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李亭庆林宽宏吴省贤陈重宇徐伟智
申请人 ：
住华科技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾台南市善化区环东路2段32号
代理机构 ：
北京律诚同业知识产权代理有限公司
代理人 ：
张燕华
优先权 ：
CN202210171792.3
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/958 G06T7/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20220224
申请日 : 20220224
2022-05-24 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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