超声波测厚方法及装置
实质审查的生效
摘要
本发明涉及超声波测距技术领域，公开了超声波测厚方法及装置，该测厚方法包括：获取超声波模组到工作台的距离Lp；连续测量工作台上的待测物到所述超声波模组的距离Ln，直至获得n组所述距离Ln，其中n为自然数；通过以下关系式计算所述待测物的厚度H：本发明通过对待测物进行连续的测量，再将多次测量的结果分别减去距离Lp，便可获得多组待测物的厚度数据，再取多组厚度数据的平均值，作为最终的厚度结果。弥补了超声波测量带来的浮动误差，提高了厚度测量的精度。
基本信息
专利标题 ：
超声波测厚方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114440808A
申请号 ：
CN202210174897.4
公开（公告）日 ：
2022-05-06
申请日 ：
2022-02-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
梁伟培陈代市梁文浩
申请人 ：
广东奥迪威传感科技股份有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市番禺区沙头街银平路3街4号
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
宋亚楠
优先权 ：
CN202210174897.4
主分类号 ：
G01B17/02
IPC分类号 ：
G01B17/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B17/00
以采用次声波、声波、超声波振动为特征的计量设备
G01B17/02
用于计量厚度
法律状态
2022-05-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 17/02
申请日 : 20220224
申请日 : 20220224
2022-05-06 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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