一种基于多角度正弦条纹光场融合的相移轮廓术
实质审查的生效
摘要

基于光场的三维测量由于有较好的精度、速度和检测范围成为工业三维检测的主流技术之一,和正弦条纹相位移轮廓术结合可以有效提高检测精度。本发明提出了一种基于多角度正弦条纹光场融合的相移轮廓术,该方法首先基于微透镜阵列的光场成像系统收集一组或者多组正弦相移条纹,图像校准后计算出每个子孔径图像的绝对相位,基于相位贡献权重的选择融合的子孔径,然后结合了角度、距离和相似度的融合相位,相位映射到高度后通过矫正填充到点云数据,最后通过多角度的点云融合填充到点云矩阵,进一步,提出了与之对应的微透阵列校准标定、相机标定和相位‑高度映射标定方法。

基本信息
专利标题 :
一种基于多角度正弦条纹光场融合的相移轮廓术
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114459384A
申请号 :
CN202210186741.8
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2022-02-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
徐亦新
申请人 :
嘉兴市像景智能装备有限公司
申请人地址 :
浙江省嘉兴市桐乡市高桥镇工业园区8-2幢1楼西
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202210186741.8
主分类号 :
G01B11/25
IPC分类号 :
G01B11/25  G06T7/80  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
G01B11/25
通过在物体上投影一个图形,例如莫尔条纹
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/25
申请日 : 20220228
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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