一种用于固体样品汞同位素测试的汞富集-纯化方法
公开
摘要
本发明公开了一种用于固体样品汞同位素测试的汞富集‑纯化方法，包括对实验器皿进行净化；对固体样品中的汞进行富集‑纯化，对富集‑纯化后的汞进行储存；本方法适用于不同基质的固体样品，包括岩石、煤炭、粉煤灰、泥炭、页岩沉积物以及大气颗粒物等，可显著降低汞的流程空白值、减少样品基质的干扰、保证样品汞的回收率，实现汞同位素的高精度分析。
基本信息
专利标题 ：
一种用于固体样品汞同位素测试的汞富集-纯化方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114624087A
申请号 ：
CN202210204392.8
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-03-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
孙若愚李松旌曹蜚张睿袁晶晶
申请人 ：
天津大学
申请人地址 ：
天津市南开区卫津路92号
代理机构 ：
天津市北洋有限责任专利代理事务所
代理人 ：
李素兰
优先权 ：
CN202210204392.8
主分类号 ：
G01N1/34
IPC分类号 ：
G01N1/34 G01N1/44 G01N27/626
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样；制备测试用的样品
G01N1/28
测试用样品的制备
G01N1/34
纯化；清洗
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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