一种激光光轴软校准方法、装置、电子设备及介质
公开
摘要

本申请提供了一种激光光轴软校准方法、装置、电子设备及介质,包括:获取预先存储的所述观瞄设备的激光光轴和相机光轴之间的目标偏差角度;在观瞄设备瞄向目标测距物体时,根据观瞄设备的所述目标偏差角度和相机视场角度,确定观瞄设备的屏幕画面中的激光照射点和中心瞄准点之间的目标偏差像素点;其中,相机视场角度不同,所述目标偏差像素点不同;根据所述目标偏差像素点,确定出激光照射点在屏幕画面中的像素点位置作为对所述中心瞄准点的软校准结果,并在所述像素点位置处展示一激光瞄准点,以使所述激光瞄准点对准所述目标测距物体进行测距,从而实现对激光光轴的软校准,降低了机械校准的调试次数。

基本信息
专利标题 :
一种激光光轴软校准方法、装置、电子设备及介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114608463A
申请号 :
CN202210219384.0
公开(公告)日 :
2022-06-10
申请日 :
2022-03-08
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
谭程元
申请人 :
重庆市亿飞智联科技有限公司
申请人地址 :
重庆市渝北区龙兴镇迎龙大道19号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
彭星
优先权 :
CN202210219384.0
主分类号 :
G01B11/14
IPC分类号 :
G01B11/14  G01B11/26  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/14
用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙
法律状态
2022-06-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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