一种基于改进埃特金逐步插值法的TIADC系统采样时间误差...
公开
摘要
本发明公开了一种基于改进埃特金逐步插值法的TIADC系统采样时间误差校准方法，该校准方法改进自埃特金逐步插值法，改进了埃特金逐步线性插值公式，将埃特金逐步线性插值公式应用到时间交织模数转换器（Time‑Interleaved Analog to Digital Converter，TIADC）的时间误差校准领域；在逐步提高埃特金逐步插值法的阶数时，改进了所增加结点的选取方法，提高了插值算法的精度，进而提高了本时间误差校准方法的效果。本发明能根据TIADC系统采样信号的频率和精度要求自适应调节埃特金逐步插值法的阶数，并最终能在纯数字域实现对TIADC时间误差的实时校准，能够校准整个奈奎斯特采样频率以内的信号，且能适用于任意通道数的TIADC系统。
基本信息
专利标题 ：
一种基于改进埃特金逐步插值法的TIADC系统采样时间误差校准方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114584142A
申请号 ：
CN202210230953.1
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
许川佩江林余英铨
申请人 ：
桂林电子科技大学
申请人地址 ：
广西壮族自治区桂林市七星区金鸡路1号桂林电子科技大学
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202210230953.1
主分类号 ：
H03M1/10
IPC分类号 ：
H03M1/10
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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