光学系统装调检测方法
公开
摘要
本发明提供一种光学系统装调检测方法，包括以下步骤：S1、对主镜组件进行单独装调，使主镜组件的基准面与主镜室的基准面重合；S2、测量校正镜组与校正镜组镜室之间的第一偏心误差m、第一倾角误差φ、第一间隔距离S1和校正镜组的实际总厚度d；S3、测量主镜室与校正镜组镜室之间的第二倾角误差λ、第二偏心误差n和第二间隔距离S0；S4、根据步骤S2‑S3测量的数据计算主镜组件的顶点与校正镜组的前顶点之间的间距L，中心间隔t以及光轴夹角α；S5、根据步骤S4的计算结果对校正镜组的位置进行调整，直至光学系统符合预设标准。调整后的光学系统的偏心和间隔测量及调整精度优于0.1mm，倾斜调整精度优于10′。
基本信息
专利标题 ：
光学系统装调检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577447A
申请号 ：
CN202210247451.X
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郭鹏赵金宇吕天宇邵亮姜晰文姜海波
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 ：
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭婷
优先权 ：
CN202210247451.X
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02 G02B27/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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