XTS失败项的测试方法、装置、电子设备及存储介质
公开
摘要
本申请公开了XTS失败项的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质，应用于软件测试技术领域，所述XTS失败项的测试方法包括：获取目标测试输入指令，根据所述目标测试输入指令获取目标测试套件的待测试用例项；通过显示所述待测试用例项对应的初测结果文件以及接收用户对所述初测结果文件的反馈信息，对所述待测试用例项的待测试用例失败项进行迭代测试；当迭代测试后的待测试用例失败项为具备预设测试效果的目标测试用例项时，显示目标结果文件。本申请解决了现有技术中测试XTS失败项的效率低的技术问题。
基本信息
专利标题 ：
XTS失败项的测试方法、装置、电子设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114595154A
申请号 ：
CN202210265895.6
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-17
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
冯鹏
申请人 ：
深圳创维-RGB电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区粤海街道深南大道南创维大厦A座13-16楼(仅限办公)
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
林川靖
优先权 ：
CN202210265895.6
主分类号 ：
G06F11/36
IPC分类号 ：
G06F11/36 G06F40/117
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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