一种国产化主板可靠性测试方法及系统
公开
摘要
本发明公开了一种国产化主板可靠性测试方法及系统，应用于国产化主板可靠性测试系统；所述系统包括接口测试装置；接口测试装置包括处理模块，以及多个与处理模块通信连接的接口检测模块；接口检测模块包括测试芯片、连接器、识别电阻和识别模块，接口检测模块与待测主板的多个设备接口一一对应；本发明提出的国产化主板可靠性测试方法，通过比对识别电阻的电压值，能够快速有效的检测出各接口检测模块与待测主板的各个设备接口是否出现连接错误的情况，进而避免国产化主板可靠性测试因接线错误而导致的测试结果错误，保障国产化主板可靠性测试的结果的准确性。
基本信息
专利标题 ：
一种国产化主板可靠性测试方法及系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578266A
申请号 ：
CN202210268256.5
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
成桥生欧文斯李丹贺佩王振兴
申请人 ：
湖南宇诺辰电子科技有限公司
申请人地址 ：
湖南省长沙市岳麓区望城坡街道望新路188号品格家园2栋105室
代理机构 ：
长沙智勤知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
彭凤琴
优先权 ：
CN202210268256.5
主分类号 ：
G01R31/66
IPC分类号 ：
G01R31/66 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/66
连接的测试，例如插头或不可断开连接测试
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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