一种主板核心电源的测试系统
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摘要

本发明公开了一种主板核心电源的测试系统,对于没有专门的电源测试治具的待测主板,通过转接板将英特尔电源测试治具的电源信号、地信号和控制信号转换为待测主板对应的信号,继而实现通过测试主机基于目前技术成熟的英特尔电源测试治具对国产大电流芯片的核心电源质量进行测试,并通过信号检测器自英特尔电源测试治具获取待测主板的反馈信号,规避了现有国产大电流芯片核心电源测试时只能通过电源输出端进行测试导致无法测得真实的电源质量的问题,且相较于电子负载动态抽载更能够模拟出实际应用场合中的电源负载变化,解决了现阶段由于没有专门测试国产大电流芯片核心电源质量的硬件环境所导致的国产大电流芯片核心电源质量测试不准确的问题。

基本信息
专利标题 :
一种主板核心电源的测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112630678A
申请号 :
CN202011445138.4
公开(公告)日 :
2021-04-09
申请日 :
2020-12-11
授权号 :
CN112630678B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
冀荣福
申请人 :
浪潮电子信息产业股份有限公司
申请人地址 :
山东省济南市高新区浪潮路1036号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
史翠
优先权 :
CN202011445138.4
主分类号 :
G01R31/40
IPC分类号 :
G01R31/40  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/40
•测试电源
法律状态
2022-04-29 :
授权
2021-04-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/40
申请日 : 20201211
2021-04-09 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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