一种基于核心板老化测试系统

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摘要

本实用新型公开了一种基于核心板老化测试系统，包括若干路电源控制电路、若干路电流检测电路、若干路系统监测电路和MCU；每一路电源控制电路包括依次相连的工作电源、继电器LS及其控制电路、采样电阻R1和一个核心板，所述继电器LS用于控制核心板与工作电源的接通与断开；每一路电流检测电路连接一路电源控制电路，用于测量采样电阻R1的电流值，并将该电流值反馈至MCU以控制继电器LS的状态；每一路系统监测电路通过串口监测一个核心板的系统运行状况。该老化测试系统自动化测试核心板老化能力，同时避免瞬间的大电流击穿核心板的芯片，减小核心板在老化检测的损失成本。

基本信息

专利标题：

一种基于核心板老化测试系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922242344.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-16

授权号：

CN209992620U

授权日：

2020-01-24

发明人：

戴俊秀黄健刘全辉

申请人：

广州天嵌计算机科技有限公司

申请人地址：

广东省广州市番禺区大石街南大公路鸿图工业园厂房A1402

代理机构：

广州云领专利代理事务所(普通合伙)

代理人：

张莲珍

优先权：

CN201922242344.4

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28