一种电镜观察用陶瓷粉末截面镶嵌样的制备方法
实质审查的生效
摘要

本发明一种电镜观察用陶瓷粉末截面镶嵌样的制备方法具体是向陶瓷粉末和锡粉中加入去离子水或乙醇后,搅拌并超声振荡15~20 min,混合均匀后经固液分离、干燥处理,将陶瓷粉末和锡粉的混合物倒入模具中;将模具放在台式粉末压片机施加压力,保载10~20min;将压制的块状试样取出,用砂纸对试样表面打磨抛光处理,其后用酒精清洗表面和烘干,制得电镜观察用陶瓷粉末截面镶嵌样。本发明方法利用锡在常温下的高延展性和电镜在背散射电子模式下锡与陶瓷的衬度差,实现对含陶瓷微米级颗粒截面的观测,借助台式粉末压片机制备截面样品,实际操作简单,陶瓷粉末截面镶嵌样在扫描电镜下成像质量高,观测清晰明显。

基本信息
专利标题 :
一种电镜观察用陶瓷粉末截面镶嵌样的制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114518373A
申请号 :
CN202210321829.6
公开(公告)日 :
2022-05-20
申请日 :
2022-03-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
崔世宇易周黄俊罗军明
申请人 :
南昌航空大学
申请人地址 :
江西省南昌市丰和南大道696号
代理机构 :
南昌市平凡知识产权代理事务所
代理人 :
张文杰
优先权 :
CN202210321829.6
主分类号 :
G01N23/2005
IPC分类号 :
G01N23/2005  G01N23/203  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20008
分析仪零件结构,例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统;其配件;样品制备
G01N23/2005
粉末状样品制备
法律状态
2022-06-07 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/2005
申请日 : 20220330
2022-05-20 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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