冶金光谱特征回归方法、装置、电子设备和存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种冶金光谱特征回归方法、装置、电子设备和存储介质。包括:将带有目标元素浓度标签值和光谱特征值的物料样本,按照浓度标签值,等距离划分为预设数量的段,标记每段包括的物料样本的数量;根据每段包括的物料样本的数量中的最大值,和每段包括的物料样本的数量,得到每段对应的权重;构建回归方程;根据每段对应的权重和回归方程,构建加权损失函数;将每段包括的物料样本的浓度标签值和光谱特征值代入加权损失函数,根据加权损失函数确定述回归方程系数,使用回归方程完成物料样本分布不均衡的回归优化。能够解决物料样本目标元素浓度分布不均衡情况下的小样本LIBS光谱数据欠拟合问题,提升小样本LIBS光谱的预测精度。

基本信息
专利标题 :
冶金光谱特征回归方法、装置、电子设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114486821A
申请号 :
CN202210352853.6
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-04-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
潘从元张兵贾军伟
申请人 :
合肥金星智控科技股份有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区皖水路228号1幢生产楼
代理机构 :
北京知联天下知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张迎新
优先权 :
CN202210352853.6
主分类号 :
G01N21/63
IPC分类号 :
G01N21/63  G01N21/01  G06F17/18  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/63
申请日 : 20220406
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332