一种RCS测量背景电平抑制方法及装置
公开
摘要
本发明提供了一种RCS测量背景电平抑制方法及装置，应用于包括一维阵列天线的RCS测量系统中，该方法包括：获取未设置待测目标时场地背景的背景电平数据；其中，场地背景与待测目标所处的待架设区域位于同一距离波门；根据背景电平数据，确定待抑制背景电平区域；基于待抑制背景电平区域所包含的方位角、预设目标低副瓣方向图和RCS测量系统，建立待抑制背景电平区域的加权系数求解模型；利用加权系数求解模型，计算得到优化加权系数；根据优化加权系数，得到待抑制背景电平区域的低副瓣方向图。本方案能够从指定角度上抑制与目标处于同一距离波门的地物背景杂波，进而提高低RCS目标的测量精度。
基本信息
专利标题 ：
一种RCS测量背景电平抑制方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114578309A
申请号 ：
CN202210353544.0
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-04-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李万珅冯孝斌沈小玲张达凯张云李熙民刘胤凯冯雨邵景星王晓苗苗
申请人 ：
北京环境特性研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区永定路50号
代理机构 ：
北京格允知识产权代理有限公司
代理人 ：
张沫
优先权 ：
CN202210353544.0
主分类号 ：
G01S7/41
IPC分类号 ：
G01S7/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S7/00
与G01S13/00，G01S15/00，G01S17/00各组相关的系统的零部件
G01S7/02
与G01S13/00组相应的系统的
G01S7/41
使用考虑到目标特性的回波信号的分析；目标形状的；目标截面的
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
