关联度延拓Hibert移相电子式互感器校验仪溯源方法和系...
实质审查的生效
摘要
本发明涉及关联度延拓Hibert移相电子式互感器校验仪溯源方法和系统,以标准功率源电压输出两路相同的模拟信号和比较信号,模拟信号输出至电子式互感器校验仪的模拟输入端口,比较信号经标准A/D及协议转换后的数字标准信号发送至数字输入端口;对所述比较信号经过标准A/D采样后的数字采样信号进行时序加权关联度波形匹配端点延拓,并对延拓数据加Nuttall窗,进而进行希尔伯特变换移相,以确定相位微差;基于微差信号与电子式互感器校验仪的示值误差确定电子式互感器校验仪的测量误差。本发明以希尔伯特变换移相为前提,以信号源的特点为依据,提出了时序加权关联度波形匹配端点延拓和Nuttall窗函数结合的方法,克服端点效应,以此提高相位微差的添加精度。
基本信息
专利标题 :
关联度延拓Hibert移相电子式互感器校验仪溯源方法和系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114460527A
申请号 :
CN202210376478.9
公开(公告)日 :
2022-05-10
申请日 :
2022-04-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陈勉舟李红斌张传计陈庆
申请人 :
华中科技大学
申请人地址 :
湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
代理机构 :
武汉蓝宝石专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
廉海涛
优先权 :
CN202210376478.9
主分类号 :
G01R35/02
IPC分类号 :
G01R35/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
G01R35/02
辅助装置的测试或校准,例如根据规定的变换比、相位角或额定瓦数对仪表变压器进行测试或校准
法律状态
2022-05-27 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/02
申请日 : 20220412
申请日 : 20220412
2022-05-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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