光束的分析设备、方法、装置、存储介质及电子装置
实质审查的生效
摘要
本申请公开了一种光束的分析设备、方法、装置、存储介质及电子装置，该方法包括：对目标材料发射参考光束；采集空间中分布的目标光束，其中，所述目标光束为所述目标材料对所述参考光束产生光学反应后的光束；获取所述目标光束对应的目标光束参数；根据所述目标光束参数确定所述目标光束的空间分布信息，采用上述技术方案，解决了相关技术中光束的空间分布信息的分析准确率较低等问题，实现了提高光束的空间分布信息的分析准确率的技术效果。
基本信息
专利标题 ：
光束的分析设备、方法、装置、存储介质及电子装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114544510A
申请号 ：
CN202210441773.8
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-04-26
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
鲁晓聪马军黄中亚李榕卢昆忠闫大鹏
申请人 ：
武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖开发区高新大道999号
代理机构 ：
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
江舟
优先权 ：
CN202210441773.8
主分类号 ：
G01N21/17
IPC分类号 ：
G01N21/17 G01J1/42 G01B11/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/17
申请日 : 20220426
申请日 : 20220426
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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