基于TMA与两面转扫反射镜的光学遥感超宽成像方法和装置
公开
摘要

本发明涉及光学遥感成像技术领域,公开了一种基于TMA与两面转扫反射镜的光学遥感超宽成像方法和装置。所述基于TMA与两面转扫反射镜的光学遥感超宽成像方法运用于离轴三反光学系统,所述离轴三反光学系统包括探测模块、离轴三反光学反射镜,所述离轴三反光学反射镜前置有两面转扫反射镜。本发明通过获取卫星的轨道高度,并确定离轴三反光学系统的成像视场;获取探测模块的成像时间,根据成像时间确定两面转扫反射镜匀速旋转的角速度;根据离轴三反光学系统的成像视场,确定两面转扫反射镜的最大旋转角度;根据卫星的轨道高度和最大旋转角度,确定地面成像幅宽;从而实现对光学卫星高级别光学遥感成像的有效控制,简化控制。

基本信息
专利标题 :
基于TMA与两面转扫反射镜的光学遥感超宽成像方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114563868A
申请号 :
CN202210463383.0
公开(公告)日 :
2022-05-31
申请日 :
2022-04-29
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孙景旭谢虹波谢新旺费强李淑贤王硕任建岳
申请人 :
季华实验室
申请人地址 :
广东省佛山市南海区桂城街道环岛南路28号
代理机构 :
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 :
高川
优先权 :
CN202210463383.0
主分类号 :
G02B17/06
IPC分类号 :
G02B17/06  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02B
光学元件、系统或仪器附注
G02B17/00
有或无折射元件的具有反射面的系统
G02B17/02
反射光系统,例如,影像竖立和倒向系统
G02B17/06
只用反射镜的
法律状态
2022-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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