曲率测量方法、系统、可读存储介质及计算机设备
公开
摘要

本发明提供一种曲率测量方法、系统、可读存储介质及计算机设备,方法包括:通过激光发射器沿预定方向照射于待测晶圆的预设照射位置,并控制待测晶圆进行自转,并获取到待测晶圆整圈的偏移量数据,根据偏移量数据计算出表面倾斜量;对两标准校准片分别按照上述步骤进行处理,以得到两标准校准片的偏移量数据,根据该偏移量数据计算出对应的基值及校准系数;根据基值、校准系数以及表面倾斜量计算得到待测晶圆的曲率值。本发明通过激光发射器照射在转动或自转状态下的待测晶圆,得到整圈的偏移量数据,计算出对应的表面倾斜量,利用两标准校准片来获得基值和标准系数,利用表面倾斜量、两基值和标准系数计算出待测晶圆的曲率值,节省计算成本。

基本信息
专利标题 :
曲率测量方法、系统、可读存储介质及计算机设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114608482A
申请号 :
CN202210506837.8
公开(公告)日 :
2022-06-10
申请日 :
2022-05-11
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
倪旭东黄文勇马铁中
申请人 :
南昌昂坤半导体设备有限公司;昂坤视觉(北京)科技有限公司
申请人地址 :
江西省南昌市南昌高新技术产业开发区艾溪湖北路688号中兴科技园8号厂房一层
代理机构 :
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
何世磊
优先权 :
CN202210506837.8
主分类号 :
G01B11/255
IPC分类号 :
G01B11/255  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量;角度的计量;面积的计量;不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/24
用于计量轮廓或曲率
G01B11/255
用于测量曲率半径
法律状态
2022-06-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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